| 產品圖(tu)片(pian) |
產(chan)品(pin)名(ming)稱/型(xing)號(hao) |
產品描(miao)述(shu) |
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性能(neng)特(te)點: ▲測(ce)試(shi)速(su)度(du)快,精(jing)度高(gao),重(zhong)復性好。 ▲可(ke)自動測(ce)量單(dan)相、三相變壓(ya)器(qi)的變(bian)比值(zhi)及變(bian)比(bi)誤(wu)差。 ▲可(ke)測(ce)量各(ge)種(zhong)聯結組(zu)別(bie)變(bian)壓(ya)器(qi),包(bao)括Z型(xing)變(bian)壓(ya)器(qi)。 ▲可(ke)測(ce)量互感(gan)器(qi)變比。 ▲可(ke)測(ce)量變(bian)壓(ya)器(qi)聯結組(zu)號和極(ji)性。 ▲可(ke)測(ce)量變(bian)壓(ya)器(qi)有載(zai)分接開(kai)關(guan)當(dang)前位置及分接值(zhi)。 ▲具(ju)有(you)數(shu)據(ju)存(cun)儲、歷(li)史(shi)數(shu)據(ju)查(zha)詢及打印(yin)等功能(neng)。 ▲具(ju)有高(gao)低(di)壓(ya)接(jie)反保(bao)護功能(neng)並(bing)提示。 ▲界(jie)面(mian)友(you)好(hao),采(cai)用(yong)*觸(chu)摸屏(ping)技(ji)術,中(zhong)文(wen)菜(cai)單(dan)提示,操(cao)作直(zhi)觀簡便(bian)。
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據(ju)新(xin)電(dian)力(li)設備(bei)預(yu)防性試(shi)驗規(gui)程(cheng)要(yao)求,各種(zhong)開(kai)關(guan)設備(bei)的(de)導電回路(lu)電(dian)阻測(ce)試(shi),其(qi)測(ce)試(shi)電(dian)流不(bu)得(de)小(xiao)於(yu)100A,對此(ci),我(wo)公(gong)司設計開(kai)發出(chu)新(xin)壹(yi)代(dai)接(jie)觸(chu)電阻(zu)測(ce)試(shi)儀系(xi)列產品(pin),其適(shi)用(yong)於(yu)測(ce)試(shi)高(gao)低(di)壓(ya)開(kai)關(guan)的(de)主觸(chu)頭接(jie)觸(chu)電阻(zu)值(zhi),高(gao)低(di)壓(ya)電(dian)纜線(xian)路(lu)的(de)直(zhi)流電(dian)阻(zu)值(zhi)等(deng)。HC5100/HC5200/HC5600回路(lu)電(dian)阻測(ce)試(shi)儀是(shi)采用(yong) 100A /200A/600A 恒流輸(shu)出(chu),Z高(gao)輸(shu)出(chu)電(dian)壓(ya)達(da)10V(為常(chang)規(gui)儀器的3~5倍),可(ke)采用(yong)截(jie)面(mian)較(jiao)細(xi)的(de)測(ce)試(shi)線(xian),減輕了現(xian)場
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電力系(xi)統(tong)為(wei)了減小(xiao)無功損(sun)耗(hao),通(tong)常(chang)采(cai)用(yong)並聯電容(rong)器(qi)組(zu)的方法來提高(gao)功率(lv)因素(su)。在實際應(ying)用(yong)中(zhong),電(dian)容(rong)器(qi)補償(chang)裝置事故率(lv)比較高(gao),在現(xian)場電(dian)容器都是(shi)成組(zu)並聯的,所(suo)以(yi)用(yong)壹般(ban)電(dian)容表(biao)需(xu)將(jiang)引線(xian)拆(chai)除後才能(neng)測(ce)量,工(gong)作量大(da),而(er)且容(rong)易造成接線(xian)錯誤(wu)。HCDR -II 電容(rong)電感(gan)測(ce)試(shi)儀在不拆(chai)線(xian)的狀(zhuang)態(tai)下,測(ce)量成組(zu)並聯著的(de)單(dan)個電容器,同時(shi)也能(neng)夠(gou)測(ce)量電(dian)感(gan)和電流,接(jie)線(xian)方便(bian),操作簡單(dan),大大提高(gao)了(le)現(xian)場測(ce)試(shi)的(de)效(xiao)率(lv)。也可(ke)避免(mian)因拆(chai)裝引線(xian)所帶(dai)來的(de)出(chu)錯的(de)可(ke)能(neng)性。
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性能(neng)特(te)點: ▲空(kong)載(zai)損耗(hao)的(de)測(ce)量: 儀器顯(xian)示三相電壓(ya)、三(san)相電(dian)流、三(san)相(xiang)功率(lv),儀器顯(xian)示施加(jia)電(dian)源波(bo)形(xing)的畸(ji)變(bian)率(lv),自動計算(suan)出(chu)變(bian)壓(ya)器(qi)的空(kong)載(zai)電流,折算到額定(ding)電(dian)壓(ya)下且(qie)進(jin)行了波(bo)形(xing)畸(ji)變(bian)校(xiao)正的(de)空(kong)載(zai)損耗(hao)。 ▲負(fu)載(zai)損(sun)耗(hao)的(de)測(ce)量: 儀器顯(xian)示三相電壓(ya)、三(san)相電(dian)流、三(san)相(xiang)功率(lv),自動計算(suan)出(chu)變(bian)壓(ya)器(qi)的阻(zu)抗(kang)電壓(ya)百(bai)分比,折算到額定(ding)溫(wen)度(du)、額(e)定電流下的(de)負(fu)載損耗(hao)。 ▲損(sun)耗(hao)查(zha)詢功能(neng): 儀器內部存(cun)有國(guo)標(biao)規(gui)定(ding)的(de)30KVA-2500KVA的(de)非晶合金(jin)、S11、S9
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XD-2000低電壓(ya)測(ce)試(shi)儀
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▲可(ke)同時(shi)測(ce)量高(gao)中(zhong)低(di)壓(ya)三(san)個繞(rao)組(zu)的直(zhi)流電(dian)阻(zu),極(ji)大(da)地縮(suo)短(duan)了測(ce)量時(shi)間(jian)。 ▲內(nei)置拉弧(hu)保護(hu)電路(lu),可(ke)在測(ce)試(shi)掉(diao)線(xian)等非正常(chang)狀(zhuang)態(tai)下保(bao)證(zheng)儀器不損壞(huai)。 ▲四(si)個(ge)電(dian)流檔(dang)位(wei),可(ke)根據(ju)試(shi)品(pin)大小(xiao)選擇合(he)適的測(ce)試(shi)電(dian)流。 ▲高(gao)度(du)智能(neng)化(hua)設計,可(ke)自動判(pan)斷(duan)測(ce)試(shi)線(xian)虛接(jie)等故障。 ▲放(fang)電時(shi)有中(zhong)文(wen)提示且(qie)伴有(you)音(yin)響報(bao)警(jing),以(yi)防誤(wu)操作。 ▲具有(you)數據(ju)存(cun)儲、歷(li)史(shi)數(shu)據(ju)查(zha)詢及打印(yin)等功能(neng)。 ▲中(zhong)文(wen)菜(cai)單(dan),操作簡單(dan),直(zhi)觀方便(bian)。 ▲為了(le)滿(man)足(zu)廣大(da)客(ke)戶的(de)要(yao)求,推出(chu)了(le)HS3208(