RLTJD-Ⅱ接(jie)地(di)引(yin)下線導通測(ce)試儀-上(shang)海徐(xu)吉電氣(qi)有(you)限(xian)公司(si)

RLT2571型(xing)數(shu)字(zi)接(jie)地(di)電阻測(ce)試儀

產(chan)品(pin)型號(hao)：

更新(xin)時(shi)間：2025-08-06
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RLT2571型(xing)數(shu)字(zi)接(jie)地(di)電阻測(ce)試儀是(shi)根(gen)據(ju)國家(jia)標(biao)準要(yao)求生產的(de)通用型(xing)安(an)全參(can)數(shu)測(ce)試儀器,本(ben)儀器采用(yong)*中(zhong)大(da)規(gui)模集成(cheng)電路，應(ying)用DC/AC交(jiao)換技術(shu)將三端鈕、四端鈕測(ce)量(liang)方式(shi)合並(bing)為壹(yi)種(zhong)機(ji)型的(de)新(xin)型(xing)接(jie)地(di)電阻測(ce)量(liang)儀。可廣(guang)泛(fan)用於(yu)電力(li)開關的(de)接(jie)地(di)電阻測(ce)試和(he)電線電纜、電工器材(cai)、電力(li)、郵電、鐵路(lu)、礦(kuang)山(shan)、通信等部門(men)的(de)接(jie)地(di)電阻測(ce)量(liang)，是傳(chuan)統接(jie)地(di)搖(yao)表的(de)替代產品(pin)，是(shi)電子(zi)產品(pin)生產(chan)廠家*的(de)測(ce)試儀器。
RLT-JD接(jie)地(di)引(yin)下線導通測(ce)試儀

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接(jie)地(di)裝置(zhi)的(de)電氣(qi)完整(zheng)性是(shi)指(zhi)接(jie)地(di)裝置(zhi)中(zhong)應該(gai)接(jie)地(di)各種(zhong)電氣(qi)設備之(zhi)間，接(jie)地(di)裝置(zhi)的(de)各部(bu)分及與各設(she)備之(zhi)間的(de)電氣(qi)連接(jie)性，即(ji)直流電阻值，也稱(cheng)為電氣(qi)導通性。電力(li)設備的(de)接(jie)地(di)引(yin)下線與(yu)地(di)網(wang)的(de)可靠、有(you)效(xiao)連接(jie)是(shi)設備安(an)全運行(xing)的(de)根(gen)本(ben)保障。接(jie)地(di)引(yin)下線是(shi)電力(li)設備與地(di)網(wang)的(de)連接(jie)部(bu)分，在(zai)電力(li)設備的(de)長(chang)時(shi)間(jian)運行(xing)過程(cheng)中，連接(jie)處(chu)有(you)可能因受(shou)潮(chao)等因素(su)影響(xiang)，出(chu)現(xian)節(jie)點(dian)銹蝕、甚(shen)至(zhi)斷裂等現象，導致接(jie)地(di)引(yin)下線與(yu)主接(jie)地(di)網(wang)連接(jie)點(dian)電阻增大(da)，從而(er)不(bu)能滿足(zu)電力(li)規(gui)程(cheng)的(de)要(yao)求，
RLTDWR-Ⅲ型(xing)大(da)地(di)網(wang)接(jie)地(di)電阻測(ce)試儀

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RLTDWR-Ⅲ型(xing)大(da)地(di)網(wang)接(jie)地(di)電阻測(ce)試儀，是(shi)變(bian)電站等各種(zhong)現場應用(yong)於(yu)對接(jie)地(di)電阻及相關參(can)數(shu)測(ce)試的(de)高精(jing)度(du)測(ce)試儀器。該(gai)儀器具(ju)有(you)體(ti)積小(xiao)、重量(liang)輕、攜(xie)帶(dai)方便(bian)、抗幹擾性能強(qiang)、準(zhun)確(que)度(du)高等特(te)點。儀(yi)器為壹(yi)體(ti)化結構(gou)，內置(zhi)變頻(pin)電源(yuan)模塊，輸出電源(yuan)連續(xu)變頻可調(tiao)。頻(pin)率可變為45Hz或(huo)55Hz，內置(zhi)高速處理器核(he)心(xin)，采用(yong)數(shu)字(zi)濾波技(ji)術(shu)，有(you)效(xiao)避開(kai)了(le)工(gong)頻(pin)電場對(dui)測(ce)試的(de)幹擾，從根(gen)本(ben)上解(jie)決(jue)了(le)強(qiang)電場幹擾下準確(que)測(ce)量(liang)的(de)難(nan)題(ti)。大(da)量(liang)現場(chang)測(ce)試和(he)用戶(hu)使用(yong)情(qing)
RLTJD-Ⅱ接(jie)地(di)引(yin)下線導通測(ce)試儀

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接(jie)地(di)裝置(zhi)的(de)電氣(qi)完整(zheng)性是(shi)指(zhi)接(jie)地(di)裝置(zhi)中(zhong)應該(gai)接(jie)地(di)各種(zhong)電氣(qi)設備之(zhi)間，接(jie)地(di)裝置(zhi)的(de)各部(bu)分及與各設(she)備之(zhi)間的(de)電氣(qi)連接(jie)性，即(ji)直流電阻值，也稱(cheng)為電氣(qi)導通性。電力(li)設備的(de)接(jie)地(di)引(yin)下線與(yu)地(di)網(wang)的(de)可靠、有(you)效(xiao)連接(jie)是(shi)設備安(an)全運行(xing)的(de)根(gen)本(ben)保障。接(jie)地(di)引(yin)下線是(shi)電力(li)設備與地(di)網(wang)的(de)連接(jie)部(bu)分，在(zai)電力(li)設備的(de)長(chang)時(shi)間(jian)運行(xing)過程(cheng)中，連接(jie)處(chu)有(you)可能因受(shou)潮(chao)等因素(su)影響(xiang)，出(chu)現(xian)節(jie)點(dian)銹蝕、甚(shen)至(zhi)斷裂等現象，導致接(jie)地(di)引(yin)下線與(yu)主接(jie)地(di)網(wang)連接(jie)點(dian)電阻增大(da)，從而(er)不(bu)能滿足(zu)電力(li)規(gui)程(cheng)的(de)要(yao)求，
RLTDWR-5A接(jie)地(di)阻抗測(ce)試儀

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RLTDWR-5A接(jie)地(di)阻抗測(ce)試儀適(shi)用於(yu)測(ce)試各類接(jie)地(di)裝置(zhi)的(de)工(gong)頻(pin)接(jie)地(di)阻抗、接(jie)觸(chu)電壓(ya)、跨步(bu)電壓(ya)、等工頻(pin)特(te)性參(can)數(shu)以及土(tu)壤電阻率。本(ben)儀器采用(yong)異(yi)頻(pin)抗幹擾技術(shu)，能在(zai)強(qiang)幹擾環境(jing)下準確(que)測(ce)得(de)工頻50Hz下的(de)數(shu)據(ju)。測(ce)試電流Z大(da)5A，不(bu)會引起(qi)測(ce)試時接(jie)地(di)裝置(zhi)的(de)電位過高，同時它還(hai)具(ju)有(you)*的(de)抗幹擾能力(li)，故(gu)可以在(zai)不(bu)停電的(de)情(qing)況(kuang)下進行(xing)測(ce)量(liang)。目(mu)前在(zai)電力(li)系統中，大(da)型(xing)地(di)網(wang)的(de)接(jie)地(di)電阻的(de)測(ce)試目(mu)前主要(yao)采用(yong)工(gong)頻(pin)大(da)電流三(san)極法測(ce)量(liang)。為了(le)防(fang)止(zhi)電網(wang)運行(xing)
ETCR-2000鉗(qian)形(xing)接(jie)地(di)電阻測(ce)試儀

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ETCR2000系(xi)列(lie)鉗(qian)形(xing)接(jie)地(di)電阻測(ce)試儀是(shi)傳(chuan)統接(jie)地(di)電阻測(ce)量(liang)技術(shu)的(de)重(zhong)大(da)突(tu)破(po)，廣(guang)泛(fan)應用(yong)於(yu)電力(li)、電信、氣(qi)象、油(you)田、建(jian)築及(ji)工業(ye)電氣(qi)設備的(de)接(jie)地(di)電阻測(ce)量(liang)。　　ETCR2000系列(lie)鉗形(xing)接(jie)地(di)電阻測(ce)試儀在(zai)測(ce)量(liang)有(you)回(hui)路的(de)接(jie)地(di)系(xi)統時，不(bu)需(xu)斷開接(jie)地(di)引(yin)下線，不(bu)需(xu)輔助電極，安(an)全快(kuai)速(su)、使用(yong)簡便(bian)。　　ETCR2000系(xi)列(lie)鉗(qian)形(xing)接(jie)地(di)電阻測(ce)試儀能測(ce)量(liang)出用(yong)傳統方法(fa)無法(fa)測(ce)量(liang)的(de)接(jie)地(di)故(gu)障，能應用於(yu)傳統方法(fa)無法(fa)測(ce)量(liang)的(de)場(chang)合(he)，因(yin)為該(gai)儀表測(ce)量(liang)的(de)是(shi)接(jie)地(di)