PCIμΩ/3-C回(hui)路(lu)電(dian)阻測試(shi)儀_第(di)(2)頁-上(shang)海徐吉(ji)電(dian)氣有限公(gong)司(si)

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產(chan)品(pin)名(ming)稱/型號

產品描述(shu)

TQSB系(xi)列(lie)交直(zhi)流(liu)高壓試(shi)驗變壓器(qi)

產(chan)品型號：

更新時(shi)間(jian)：2025-08-06
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TQSB系(xi)列(lie)輕(qing)型交直(zhi)流(liu)高壓試(shi)驗變壓器(qi)是根(gen)據(ju)機(ji)電(dian)部《試(shi)驗變壓器(qi)》標(biao)準在原(yuan)同類(lei)產品(pin)基礎上(shang)經(jing)過(guo)大(da)量(liang)改(gai)進(jin)後而(er)生產的TQSB系(xi)列(lie)輕(qing)型交直(zhi)流(liu)高壓試(shi)驗變是在(zai)YDJ（G）系列(lie)試(shi)驗變壓器(qi)的基(ji)礎上(shang)按照(zhao)國(guo)家(jia)標(biao)準《ZBK-41006-89》經(jing)過(guo)改(gai)進(jin)後而(er)生產的壹(yi)種(zhong)新型產品。本系(xi)列(lie)產(chan)品具(ju)有體積(ji)小、重量(liang)輕(qing)、結構緊湊(cou)、功(gong)能齊全(quan)，通(tong)用性強(qiang)和使用方(fang)便(bian)等(deng)特(te)點(dian)。特(te)別適(shi)用於電(dian)力系統、工(gong)礦企業(ye)、科(ke)研部(bu)門等對各(ge)種(zhong)高壓電(dian)氣設備、電(dian)氣元(yuan)件、絕(jue)緣(yuan)材
PCIμΩ/3-A回路(lu)電(dian)阻測試(shi)儀（臺(tai)式(shi)）

產品(pin)型號：

更新時(shi)間(jian)：2025-08-06
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技術規(gui)格電(dian)　　源：交流(liu)電(dian)220V±10%，50Hz 測試(shi)電(dian)流(liu)：≥100A 測試(shi)時(shi)間(jian)：3秒(miao)（60秒(miao)可供選擇(ze)）測量(liang)範圍(wei)：0-1999μΩ 準確度(du)：0.5 基(ji)本誤(wu)差：Δ=±（0.5%RX +0.1%AF）　　　　　RX=被(bei)測電(dian)阻 AF=Z大量(liang)程(cheng)值(zhi) 分(fen) 辨率(lv)：1μΩ 顯示(shi)方(fang)式(shi)：回(hui)路電(dian)阻：3位半(ban)數顯示(shi)並鎖存　　　　　測試(shi)電(dian)流(liu)：3位(wei)數字(zi)顯示(shi) 體　　積(ji)：320mm×280mm×140mm 重　　量(liang)
PCIμΩ/3-B回路電(dian)阻測試(shi)儀（便(bian)攜(xie)式）

產品型號：

更新時(shi)間(jian)：2025-08-06
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技術規(gui)格電(dian)　　源：交流(liu)電(dian)220V±10%，50Hz 測試(shi)電(dian)流(liu)：≥100A 測試(shi)時(shi)間(jian)：3秒(miao)（60秒(miao)可供選擇(ze)）測試(shi)範圍(wei)：0-1999μΩ 準確度(du)：0.5 基(ji)本誤(wu)差：Δ=±（0.5%RX +0.1%AF）　　　　　 RX=被(bei)測電(dian)阻 AF=Z大量(liang)程(cheng)值(zhi) 分(fen) 辨率(lv)：1μΩ（0.1μΩ可供選擇(ze)）顯示(shi)方(fang)式(shi)：回(hui)路電(dian)阻：3位半(ban)數字(zi)顯示(shi)並鎖存　　　　　測試(shi)電(dian)流(liu)：3位(wei)數字(zi)顯示(shi)並鎖存體　　積(ji)：300mm×
PCIμΩ/3-C回(hui)路(lu)電(dian)阻測試(shi)儀

產(chan)品(pin)型號：

更新時(shi)間(jian)：2025-08-06
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技術規(gui)格 1、使(shi)用環(huan)境(jing)：溫　度(du)：-20～50℃ 濕(shi)　　度(du)：小於80% 2、測試(shi)電(dian)流(liu)：≥100A 3、測試(shi)範圍(wei)：0～1999μΩ 4、準確度(du)：0.5級(ji) 　　　　　　基(ji)本誤差：△=±（0.5%RX+0.1%AF）　　　　　　RX=被(bei)測電(dian)阻值(zhi)　　AF=Z大(da)量(liang)程(cheng)值(zhi) 5、顯示(shi)方(fang)式(shi)：液(ye)晶屏(ping)幕：　　　　　　回路電(dian)阻：4位半(ban)數字(zi)顯示(shi)並有鎖存(cun)。　　　　　　測試(shi)電(dian)流(liu)：3位(wei)數字(zi)顯示(shi)並有鎖存(cun)。 6、測
PCIμΩ/3智能(neng)型回路電(dian)阻測試(shi)儀

產(chan)品(pin)型號：

更新時(shi)間(jian)：2025-08-06
查看(kan)詳(xiang)細介(jie)紹

技術規(gui)格 1、使(shi)用環(huan)境(jing)：溫　度(du)：-5～50℃ 　濕(shi)　　度(du)：小於80% 2、測試(shi)電(dian)流(liu)：≥100A 3、測試(shi)範圍(wei)：0～1999μΩ 4、準確度(du)：0.5級(ji) 　　　　　　基(ji)本誤差：△=±（0.5%RX+0.1%AF）　　　　　　RX=被(bei)測電(dian)阻值(zhi)　　AF=Z大(da)量(liang)程(cheng)值(zhi) 5、顯示(shi)方(fang)式(shi)：液(ye)晶屏(ping)幕：　　　　　　回路電(dian)阻：4位半(ban)數字(zi)顯示(shi)並有鎖存(cun)。　　　　　　測試(shi)電(dian)流(liu)：3位(wei)數字(zi)顯示(shi)並有鎖存(cun)。 6、
PCIμΩ/4型回路電(dian)阻測試(shi)儀

產(chan)品(pin)型號：

更新時(shi)間(jian)：2025-08-06
查看(kan)詳(xiang)細介(jie)紹

技術規(gui)格電(dian)　　源：交流(liu)電(dian)220V±10%，50Hz 測試(shi)電(dian)流(liu)：≥200A 測量(liang)範圍(wei)：0-400μΩ　　分(fen) 辨率(lv)：0.1μΩ 　　　　 0-1999μΩ　分辨(bian) 率(lv)：1μΩ 準確度(du)：0.5 基(ji)本誤(wu)差：Δ=±（0.5%RX +0.1%AF）　　　　　 RX=被(bei)測電(dian)阻 AF=Z大量(liang)程(cheng) 顯示(shi)方(fang)式(shi)：回(hui)路電(dian)阻：4位半(ban)數字(zi)顯示(shi)並有鎖存(cun) 　　　　　測試(shi)電(dian)流(liu)：3位(wei)數字(zi)顯示(shi)並鎖存體　　積(ji)：320mm